武汉大学科研公共服务条件平台300kV双球差校正透射电子显微镜（JEM-ARM300F2）已经安装调试完成，即日起对校内开放试运行，欢迎校内师生预约测试！
一、仪器参数配置
型号：JEM-ARM300F2（GRAND ARM2）
厂家：日本电子株式会社（JEOL）
灯丝类型：冷场发射电子枪
加速电压：40 – 300 kV
TEM线分辨率：≤50 pm (300 kV)
STEM分辨率：≤53 pm (300 kV)
相机：Gatan Oneview和K3相机
能谱：JED-2300T（158 mm2双探头）
其他附件：SAAF、4D-STEM、EELS、IDES等附件
二、应用领域
JEM-ARM300F2透射电镜配备有独特双12极子球差校正器以及自动校正软件使其可以轻松实现超高原子级分辨率成像，同时结合超大面积双EDS探头可实现高效的元素分析。搭载有Gatan底插Oneview相机，在4k x 4k的全幅分辨率下可以以25fps的帧速率进行实时观察。GIF Continuum系统配备有直接电子探测的K3相机可以提升电子能量损失谱（EELS）的能量分辨率和性噪比，同时可以有效加快数据采集速度。电镜全封装外壳和主动减震设备使其具备良好的稳定性，在获取原子级图像的同时也可以高效的获取EDS和EELS原子级Mapping。
三、温馨提示
1、样品要求：样品无磁性；厚度在50纳米以下；样品要预先处理表面污染。
2、并非所有样品都适合球差电镜并获得理想的数据结果，建议先在普通透射电镜上筛选检查样品，再与实验老师探讨可行性。
3、目前先开放高分辨和原子像拍摄功能（有其他功能需求的用户可联系实验老师讨论样品和实验方案）。
预约请登录：http://facility.whu.edu.cn
地点：武汉大学尖端科技楼101A
联系人：李老师 13163286278
