高分辨三维X射线显微镜试运行公告-武汉大学
高分辨三维X射线显微镜试运行公告

武汉大学科研公共服务条件平台高分辨三维X射线显微镜已经安装调试完毕,即日起对校内开放试运行,欢迎校内师生预约测试!

仪器型号: Xradia 515 Versa

厂家:德国 卡尔蔡司

仪器功能特色:

高分辨三维X射线显微镜(简称XRM)利用X射线穿透样品,探测器收集不同吸收信号,实现X射线全场成像,可以对材料内部结构进行无损测试,并进行三维重构和切片表征。应用范围包括:复合材料、多孔材料、建筑材料、岩石三维孔隙结构、特征提取和定量分析与统计分布;增材制造、金属、陶瓷内部缺陷检测;生成三维网格模型用于数值模拟计算或3D打印;电池、芯片、热电材料的失效分析;纤维材料的取向分析;动植物组织学成像分析;材料拉伸或压缩断裂行为和加热试验的原位表征。

仪器主要参数:

1.光电耦合物镜探测器,物镜0.4X的最大三维视野50mm;物镜40X最高空间分辨率500nm。

2.X射线源最高工作电压160kV,最大功率10W。

3.最大可测样品尺寸φ300mm×450mm。

4.原位测试力值最大5KN,轴向位移最大10mm,轴向位移速度0.1mm/min -1mm/min。

5.原位拉伸试验台的温度范围﹣20℃ ~﹢160℃。

送样须知:

(1) 送样请至少提前1天,并说明样品材质、观测特征尺寸以及三维数据分析要求。

(2) 图像分辨率与样品材质和尺寸密切相关,送样前请阅读仪器公告送样须知或电话咨询检测老师。

预约请登录:http://facility.whu.edu.cn

地点:武汉大学工学部尖端科技楼103

联系人:张老师 15997416157


发布单位: 科研公共服务条件平台

发布日期: 2024-02-28